早前为大家报导过三星的Exynos处理器存漏洞，令恶意应用软件可对设备上的内存进行读写存取，有心人士就可利用该漏洞令装置出现硬件损坏。
该硬件漏洞出现在三星的Exynos 4210和4412处理器，受影响设备包括Galaxy S II / III (包括 LTE 版) 、Galaxy Note / Note 2 和 Meizu MX 等等，Alephzain就示范用该漏洞令Galaxy S III不用Odin就可Root机。
近日三星就为受影响装置推出软件更新，但部份GALAXY Note 2用户发现更新后，装置耗电量比更新前快得多。
三星为受影响的GALAXY Note 2推出软件更新修正处理器漏洞问题 (版本为 N7100XXDLL7)，部份用户表示更新后耗电量有明显增加，当中包括升级前可用7.5个小时，但升级后只可用6.5-7小时、电池续航缩短5-10%、电池消耗比4.1.1更快、以前可待机超过36小时但现在只能待机24小时。